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  • 日本日置 LCR测试仪
    日本日置 LCR测试仪

    日本日置 LCR测试仪 IM3536 DC,4Hz~8MHz测量频率 ● 测量频率DC,4Hz~8MHz ● 测量时间:较快1ms ● 基本精度:±0.05% rdg ● 1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量 ● 可内部发生DC偏压测量 ● 从研发到生产线活跃在各种领域中

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  • 日置LCR测试仪
    日置LCR测试仪

    日置LCR测试仪 IM3533\IM3533-01 应用覆盖线圈&变压器生产到研发等诸多领域 ● 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)。 ● 在例如C-D和ESR这样的混合测量条件下,不间断测试,速度是我司以往产品的10倍。 ● 内置的低阻抗高精度模式可有效测量低感应或铝电解电容的等效串联电阻。

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  • 日置LCR测试仪
    日置LCR测试仪

    日置LCR测试仪 IM3523 应用于生产线和自动化测试领域的理想选择 ● 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA) ● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。 ● 内置比较器和BIN功能 ● 2ms的快速测试时间

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  • 日本日置LCR测试仪
    日本日置LCR测试仪

    日本日置LCR测试仪3511-50概要: 1.高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz) 2.高精度: ± 0.08% 3.内置比较器 4.精巧,非常专业,5ms快速测量LCR

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  • 日本日置LCR测试仪
    日本日置LCR测试仪

    100kHz~120MHz的宽频带 高速LCR测试(6ms/采样) 拆卸式前置放大器可选择 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能

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