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IM3536日本日置 LCR测试仪的详细资料

日本日置 LCR测试仪 IM3536

DC,4Hz~8MHz测量频率

● 测量频率DC,4Hz~8MHz
● 测量时间:快1ms
● 基本精度:±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量
● 可内部发生DC偏压测量
● 从研发到生产线活跃在各种领域中

 

注意:

主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头。

 

电解电容器的电容测量:LCR测试仪IM3536

根据JIS标准测试电解电容器,电解电容的电容值在不同测试频率下容值差异较大,因此需要根据实际回路的工作频率来确认电容值。
LCR测试仪IM3536宽测试频率范围DC,4Hz~8MHz,适用于以上产品特性评估。

 

陶瓷电容器的电容测量:LCR测试仪IM3536

陶瓷电容器可分为,随电压变化的高介电常数型和温度补偿型。JIS标准针对两种陶瓷电容特性有不同的测试要求。使用LCR测试仪IM3536的频率范围DC,4Hz~8MHz,内置电压范围10mV~5V,非常适合用于以上两种不同要求的电容测试。

 

电感器(线圈)的电感测量:LCR测试仪IM3536

电感器(线圈)所具备的电感和线圈的寄生电容中将LC共振现象称为自谐振。 将产生这种自谐振的频率称为自谐振频率。在评估线圈时请在比自谐振频率更低的频率下测量L和Q。
LCR测试仪IM3536的测量频率很广,可以设置为DC、4 Hz~8 MHz,可以任意改变测试频率进行测试。

 

测量电感器的频率特性:LCR测试仪IM3536

LCR测试仪IM3536的测量频率较广,可以设置为DC、4 Hz~8 MHz,非常适合于评估连续改变频率的测量。在计算机中安装附件LCR采用应用软件(CD-R),并通过接口(USB, GP-IB, RS-232C),可以进行扫频功能,自动测量出的测量数值能够以Excel或CSV格式进行保存。

 

日本日置 LCR测试仪 IM3536

基本参数

测量模式LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量)

测量参数

Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
测量量程100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定)
显示范围Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ)
测量频率4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)
测量信号电平[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V)
[直流电阻测量]: 1 V固定
DC偏压发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)
输出阻抗通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
显示彩色TFT5.7英寸,触摸屏
功能比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能
接口EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出
电源AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
体积及重量330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
附件电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1

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