日本日置 C测试仪 3506-10 对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 ● 模拟测量时间0.6ms（1MHz）的高速测量 ● 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度 ● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量 ● 根据BIN的测定区分容量

日本日置 C测试仪 3504-40/50/60 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 ● 高速测量2ms ● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 ● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 ● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 ● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率