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日本日置 C测试仪
更新时间:2019-05-31
日本日置 C测试仪 3506-10对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量● 提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度● 1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量● 根据BIN的测定区分容量
3506-10日本日置 C测试仪的详细资料
一、日本日置 C测试仪 3506-10的优点
应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度
1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量
根据BIN的测定区分容量
注意:输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件。 ※RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。
二、日本日置 C测试仪 3506-10的基本参数
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三、的选件
上海君达仪器仪表有限公司
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