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3504-40/50/60日本日置 C测试仪的详细资料

日本日置 C测试仪 3504-40/50/60

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

● 高速测量2ms
● 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线,比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误,提高成品率

 

注意:

输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件

 

日本日置 C测试仪 3504-40/50/60

基本参数

测量参数Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)
测量范围C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000
基本精度(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E为各系数
测量频率120Hz, 1kHz
测量信号电平恒压模式: 100mV (仅限3504-60), 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻5Ω(CV测量范围以外的开路端子电压模式时)
显示发光二级管 (6位表示,满量程计算器根据量程而定)
测量时间典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
功能BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口(标配), GP-IB接口(3504-40除外)
电源AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 大110VA
体积及重量260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件电源线×1,预备电源保险丝×1,使用说明书×1

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