日本日置 C测试仪 3504-40/50/60 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 ● 高速测量2ms ● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 ● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试 ● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试 ● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率

100kHz～120MHz的宽频带 高速LCR测试（6ms/采样） 拆卸式前置放大器可选择 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能

日本日置LCR测试仪3532-50概要： 1.测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整 2.可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来 注：输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件

日本日置电气阻抗分析仪 IM3570 1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 ● 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 ● LCR模式下较快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量 ● 基本精度±0.08%的高精度测量 ● 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量

日本日置存储记录仪8423概要： 1.10msec高速采样 2.Z大 600通道的数据收集记录 3.PC基准的15ch～600ch数据收集器 4.强化绝缘功能、对地间600V、通道间200V/120V 5.配备USB2.0、100BASE-TX LAN、CF卡1GB 6.内存容量可有效合理利用的两用采样