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日本日置高阻计
更新时间：2019-06-04
日本日置高阻计 SM7110/SM7120使用方法多种多样，大1000V，较快6.4ms高阻计● 实现了是以往产品300倍的抗干扰功能● 较快6.4ms的高速测量● 作为皮安表使用进行低电容检查● 高2×10^19 Ω显示，小0.1fA分辨率● 标配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB● 静电计、皮安表、IR表，可以自由安排
SM7110/SM7120日本日置高阻计的详细资料
日本日置高阻计 SM7110/SM7120
使用方法多种多样，大1000V，快6.4ms高阻计
● 实现了是以往产品300倍的抗干扰功能
● 快6.4ms的高速测量
● 作为皮安表使用进行低电容检查
● 高2×10^19 Ω显示，小0.1fA分辨率
● 标配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB
● 静电计、皮安表、IR表，可以自由安排
注意：
主机不带测试探头，请根据测量用途购买选件中的探头。
超绝缘计是一种能够作为IR表、静电计等高电阻计，以及作为皮安表这种微小电流计来使用，使用方法非常丰富的测量仪器。
而且，HIOKI自行设计的悬浮式电路，能不受测量环境影响进行稳定测量，并且运用在产线中实现高速测量。
2000V输出 SM7120
通过全新的SM悬浮式电路和三轴连接器的组合，大幅提高抗噪音性能。
SM7110/SM7120采用了16mm大口径的三轴连接器。
兼顾抗噪音的稳定性和高压检查时的安全性
6.4ms=测量4.1+接触检查2.3ms
高速检查和大50mA的预充电功能的组合可以实现高产量的MLCC检查。
日本日置高阻计 SM7110/SM7120
| 测量通道数 | 1ch |
|---|---|
| 直流电流测量(精度) | 20 pA量程(分辨率 0.1 fA), 精度 ±(2.0% of rdg. +30 dgt.) 200 pA量程 (分辨率1.0 fA), 精度±(1.0% of rdg. +30 dgt.) 2 nA量程 (分辨率10 fA), 精度±(0.5% of rdg. +20 dgt.) 20 nA量程 (分辨率100 fA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 200 nA量程 (分辨率1 pA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 2 μA量程 (分辨率10 pA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 20 μA量程 (分辨率100 pA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 200 μA量程 (分辨率1 nA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) ※2 mA量程 (分辨率10 nA), 精度±(0.5% of rdg. +30 dgt.) (1) 测量速度设置: SLOW2=内部累积时间为13PLC时 (2) 温度范围: 23 ±5℃ 湿度 85% rh以下 (3) 2 mA量程仅在测量速度FAST时才能选择 |
| 电阻显示范围 | 50 Ω ～2×10 ^19 Ω ※电流测量精度由电流量程精度和电压设置精度规定 |
| 电压设置范围 (精度) | [SM7110,SM7120共通] 0.1～100.0 V, 分辨率100 mV, 精度 设置的±0.1%±0.05% f.s. 100.1～1000 V, 分辨率1 V, 精度 设置的±0.1% ±0.05% f.s. |
| 限流器 | 0.1～250.0 V: 5/ 10/ 50 mA, 251～1000 V: 5/ 10 mA, 1001V～： 1.8mA |
| 测量时间设置 | 延迟时间: 0～9999 ms |
| 功能 | 比较测量，偏差测量，百分比测量，表面电阻率测量，体积电阻率测量，电压监视器，接触检查 |
| 编程功能 | 有10种放电-充电-测量-放电的测量序列可编程 |
| 显示 | LCD显示(30位，8行)、背光、高压警告显示 |
| 接口 | GP-IB, RS-232C, USB, EXT I/O |
| 电源 | AC100～240 V, 50/60 Hz, 45 VA |
| 体积及重量 | 330W × 80H × 400D mm, 6.7 kg |
| 附件 | 电源线 ×1, 使用说明书 ×1, 短路插头, CR-R (各种驱动) |
上海君达仪器仪表有限公司
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